Počkejte prosím...
Data pro 2018/2019

Metody strukturní a povrchové analýzy

Kredity 3
Rozsah 2 / 0 / 0
Examinace Zk
Jazyk výuky čeština
Úroveň magisterský předmět
Garant prof. Dr. RNDr. Pavel Matějka

Anotace

Předmět shrnuje základní pojmy, vztahující se ke struktuře molekul a povrchové analýze. Postupně jsou probírány techniky povrchové analýzy, ať již prvkové, molekulové i morfologické, včetně mikroskopií blízkého pole. Dále pak je podán přehled o jednotlivých technikách strukturní analýzy a informacích, které o struktuře mohou poskytnout. Pozornost je věnována i aktuálním aplikacím jednotlivých technik. V řadě případů předmět navazuje na znalosti, které posluchači získali v základním kurzu Analytiká chemie I a II (absolvování těchto předmětů je doporučeno).

Sylabus

1. Základní pojmy povrchové a strukturní analýzy
2. Metody povrchové analýzy založené na detekci elektronů (XPS, UPS)
3. Metody povrchové analýzy založené na detekci elektronů - Augerova spektroskopie
4. Metody elektronové mikroskopie a chemické analýzy (EDX, WDX)
5. Metody rastrovací mikroskopie (AFM, STM, SNOM)
6. Metody povrchové analýzy založené na detekci iontů (SIMS)
7. Metody rentgenové difrakce
8. Elektronová a neutronová difrakce
9. Metody infračervené a Ramanovy spektrometrie
10. Infračervená a Ramanova mikrospektrometrie, mapování a zobrazování
11. Povrchem zesílená vibrační spektroskopie
12. Spektrometrie NMR a struktura molekul
13. Spektrometrie NMR v pevné fázi
14. NMR analýza v nehomogenních polích, mobilní NMR

Literatura

Z:Modern Instrumental Analysis, ed. S. Ahuja, N. Jespersen, Comprehensive Analytical Chemistry Vol. 47 (2006), p. 1-864 (available online at VSCHT)
Z:Non-Destructive Microanalysis of Cultural Heritage materials, ed. S. Ahuja, N. Jespersen, Comprehensive Analytical Chemistry Vol. 42 (2004), p. 1-800 (available online at VSCHT)
D:R.L. McCreery: Raman Spectroscopy for Chemical Analysis, Wiley 2000 (available online at VSCHT)
D:L. A. Casper, C. J. Powell: Industrial Applications of Surface Analysis, vol. 199, ACS 1982 (available online at VSCHT)
D:Sam Zhang, Lin Li, Ashok Kumar: Materials Characterization Techniques, CRC Press Boca Raton 2009, ISBN 978-1-4200-4294-8

VŠCHT Praha
Technická 5
166 28 Praha 6 – Dejvice
IČO: 60461373
DIČ: CZ60461373

Datová schránka: sp4j9ch

Copyright VŠCHT Praha 2014
Za informace odpovídá Oddělení komunikace, technický správce Výpočetní centrum
zobrazit plnou verzi