Data pro 2018/2019
Moderní analytické metody pro nanotechnologie
Kredity | 3 |
Rozsah | 2 / 0 / 0 |
Examinace | Zk |
Jazyk výuky | čeština |
Úroveň | bakalářský předmět |
Garant |
doc. RNDr. Ing. Pavel Řezanka, Ph.D. |
Elektronické materiály | dostupné v e-learningu VŠCHT |
Anotace
Předmět bezprostředně navazuje na povinný předmět Analytická chemie I. Předmět je zaměřen na prohloubení znalostí studentů v oblasti instrumentálních analytických metod se zaměřením na analýzu mikrosystémů, nanosystémů a povrchu materiálů. Důraz je kladen na principy metod i na zpracování a vyhodnocení analytických informací.
Sylabus
1) Zpracování a vyhodnocování analytických dat
2) Metody strukturní analýzy I – UV-VIS, IČ
3) Metody strukturní analýzy II – Raman, NMR
4) Metody strukturní analýzy III – MS
5) Metody strukturní analýzy IV – RTG
6) Povrchové techniky I – PES, AES
7) Povrchové techniky II – SIMS, RBS, PIXE
8) Povrchové techniky III – mikroskopické techniky
9) Povrchové techniky IV – SERS, SEIRA, IRRAS
10) Charakterizace koloidních disperzí
11) Radioanalytické metody
12) Biochemická analýza
13) Chemické senzory a biosenzory
2) Metody strukturní analýzy I – UV-VIS, IČ
3) Metody strukturní analýzy II – Raman, NMR
4) Metody strukturní analýzy III – MS
5) Metody strukturní analýzy IV – RTG
6) Povrchové techniky I – PES, AES
7) Povrchové techniky II – SIMS, RBS, PIXE
8) Povrchové techniky III – mikroskopické techniky
9) Povrchové techniky IV – SERS, SEIRA, IRRAS
10) Charakterizace koloidních disperzí
11) Radioanalytické metody
12) Biochemická analýza
13) Chemické senzory a biosenzory
Literatura
Z:James W. Robinson, Eileen Mary Skelly Frame, George M. Frame: Undergraduate Instrumental Analysis, Sixth Edition, Marcel Dekker, New York, ISBN: 0-8247-5359-3
D:Sam Zhang, Lin Li, Ashok Kumar: Materials Characterization Techniques, CRC Press Boca Raton 2009, ISBN 978-1-4200-4294-8
D:Sam Zhang, Lin Li, Ashok Kumar: Materials Characterization Techniques, CRC Press Boca Raton 2009, ISBN 978-1-4200-4294-8